Development of protocols for a quantitative characterization of morphological and tribological properties of nanostructured films via the atomic force microscope

Tesi di Dottorato
Data di Pubblicazione:
2002
Citazione:
Development of protocols for a quantitative characterization of morphological and tribological properties of nanostructured films via the atomic force microscope / A. Podesta' ; tutore: G. Benedek ; coordinatore: R. Tubino. null, 2002. 14. ciclo, Anno Accademico 2000/2001.
Abstract:
null
Tipologia IRIS:
13 - Tesi di dottorato discussa entro ottobre 2010
Elenco autori:
A. Podesta'
Autori di Ateneo:
PODESTA' ALESSANDRO MARIO GIACOMO ( autore )
Link alla scheda completa:
https://air.unimi.it/handle/2434/72374

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