Determinazione non invasiva in situ degli spessori di strati pittorici sulla base dell’analisi EDXRF e della spettroscopia vis-NIR

Il metodo tradizionalmente utilizzato per ottenere la stratigrafia della stesura in un’opera pittoriche è l’osservazione al microscopio ottico di un microprelievo. Recentemente l’utilizzo di tecniche IBA (PIXE a energia variabile) ha eliminato la necessità di microprelievi, ma è comunque impossibile operare analisi in situ. Informazioni quantitative sulle sequenze stratigrafiche sono invece ottenibili associando l’analisi EDXRF e la spettroscopia in riflettanza vis-NIR, entrambe effettuabili con strumentazione portatile. L’analisi XRF permette, infatti, di determinare gli elementi chimici di tutti gli strati pittorici fino a quello della preparazione, mentre lo spettro di riflettanza permette di riconoscere la natura dello strato superficiale. Si presentano applicazioni su due opere di Andrea Mantenga: “Madonna col bambino e un coro di cherubini” e “Pala di S. Zeno”.