Analisi dei guasti di schede elettroniche per il controllo statistico della qualità

Contributo in Atti di convegno

Data di Pubblicazione:

2008

Citazione:

Analisi dei guasti di schede elettroniche per il controllo statistico della qualità / M. Lazzaroni - In: GMEE 2008 : 25. Congresso nazionale gruppo misure elettriche ed elettroniche : Monte Porzio Catone, Roma, 7-10 settembre 2008 : atti del congresso / [a cura di] [s.n.]. - Roma : GMEE, 2008 Sep. - pp. 129-130 (( Intervento presentato al 25. convegno Congresso Nazionale Associazione "Gruppo di Misure Elettriche ed Elettroniche" tenutosi a Monte Porzio Catone (Roma) nel 2008.

Tipologia IRIS:

03 - Contributo in volume

Keywords:

Controllo statistico del processo ; Qualità

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