Determinazione non invasiva in situ degli spessori di strati pittorici sulla base dell’analisi EDXRF e della spettroscopia vis-NIR
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Data di Pubblicazione:
2007
Citazione:
Determinazione non invasiva in situ degli spessori di strati pittorici sulla base dell’analisi EDXRF e della spettroscopia vis-NIR / L.M. Bonizzoni, A. Galli, G. Poldi, M.M. Milazzo. ((Intervento presentato al 93. convegno Congresso nazionale della Società Italiana di Fisica tenutosi a Pisa nel 2007.
Abstract:
Il metodo tradizionalmente utilizzato per ottenere la stratigrafia della stesura in un’opera pittoriche è l’osservazione al microscopio ottico di un microprelievo. Recentemente l’utilizzo di tecniche IBA (PIXE a energia variabile) ha eliminato la necessità di microprelievi, ma è comunque impossibile operare analisi in situ.
Informazioni quantitative sulle sequenze stratigrafiche sono invece ottenibili associando l’analisi EDXRF e la spettroscopia in riflettanza vis-NIR, entrambe effettuabili con strumentazione portatile. L’analisi XRF permette, infatti, di determinare gli elementi chimici di tutti gli strati pittorici fino a quello della preparazione, mentre lo spettro di riflettanza permette di riconoscere la natura dello strato superficiale. Si presentano applicazioni su due opere di Andrea Mantenga: “Madonna col bambino e un coro di cherubini” e “Pala di S. Zeno”.
Tipologia IRIS:
14 - Intervento a convegno non pubblicato
Elenco autori:
L.M. Bonizzoni, A. Galli, G. Poldi, M.M. Milazzo
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