Publication Date:
2024
Citation:
Affidabilità di componenti elettronici a temperatura criogenica / A. Andreani, M. Lazzaroni, V. Trabattoni, A. Zani - In: VIII Forum Nazionale delle Misure 2024Prima edizione. - Benevento : Gruppo Misure Elettriche ed Elettroniche (GMEE), 2024 Sep. - ISBN 978-88-942753-3-9. - pp. 319-320 (( Intervento presentato al 8. convegno XLI Congresso Nazionale di Misure Elettriche ed Elettroniche : XXXII Congresso Nazionale di Misure Meccaniche e Termiche : 12 - 14 settembre tenutosi a San VIncenzo (Livorno) nel 2024.
IRIS type:
03 - Contributo in volume
Keywords:
Misure; Affidabilità;
List of contributors:
A. Andreani, M. Lazzaroni, V. Trabattoni, A. Zani
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Book title:
VIII Forum Nazionale delle Misure 2024