Data di Pubblicazione:
2009
Citazione:
Analisi quantitativa EDXRF su gemme: valutazione degli elementi cromofori presenti in traccia / L.M. Bonizzoni, A. Galli, G. Spinolo, V. Palanza. ((Intervento presentato al 95. convegno Congresso nazionale della Società Italiana di Fisica tenutosi a Bari nel 2009.
Abstract:
Lo studio e la caratterizzazione dei materiali costituenti gioielli di oreficeria antica sono di elevato interesse e dal punto di vista tecnologico e dal punto di vista storico. L’analisi EDXRF si rivela spesso utile per la sua non distruttività; in particolare anche per quanto riguarda la caratterizzazione delle gemme. Nell’ambito del nuovo modello interpretativo recentemente discusso (ref) sulle cause del colore nelle gemme, il presente lavoro si prefigge di valutare entro che limiti l'analisi XRF consenta, tramite la valutazione dei coefficienti di assorbimento dei campioni in esame e la valutazione degli effetti di eccitazione secondaria, di ottenere una analisi quantitativa accurata soprattutto per gli elementi in traccia.
Tipologia IRIS:
14 - Intervento a convegno non pubblicato
Elenco autori:
L.M. Bonizzoni, A. Galli, G. Spinolo, V. Palanza
Link alla scheda completa: