Affidabilità di componenti elettronici a temperatura criogenica

Contributo in Atti di convegno

Data di Pubblicazione:

2024

Citazione:

Affidabilità di componenti elettronici a temperatura criogenica / A. Andreani, M. Lazzaroni, V. Trabattoni, A. Zani - In: VIII Forum Nazionale delle Misure 2024Prima edizione. - Benevento : Gruppo Misure Elettriche ed Elettroniche (GMEE), 2024 Sep. - ISBN 978-88-942753-3-9. - pp. 319-320 (( Intervento presentato al 8. convegno XLI Congresso Nazionale di Misure Elettriche ed Elettroniche : XXXII Congresso Nazionale di Misure Meccaniche e Termiche : 12 - 14 settembre tenutosi a San VIncenzo (Livorno) nel 2024.

Tipologia IRIS:

03 - Contributo in volume

Keywords:

Misure; Affidabilità;

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