Analisi dei guasti di schede elettroniche per il controllo statistico della qualità
Contributo in Atti di convegno
Data di Pubblicazione:
2008
Citazione:
Analisi dei guasti di schede elettroniche per il controllo statistico della qualità / M. Lazzaroni - In: GMEE 2008 : 25. Congresso nazionale gruppo misure elettriche ed elettroniche : Monte Porzio Catone, Roma, 7-10 settembre 2008 : atti del congresso / [a cura di] [s.n.]. - Roma : GMEE, 2008 Sep. - pp. 129-130 (( Intervento presentato al 25. convegno Congresso Nazionale Associazione "Gruppo di Misure Elettriche ed Elettroniche" tenutosi a Monte Porzio Catone (Roma) nel 2008.
Tipologia IRIS:
03 - Contributo in volume
Keywords:
Controllo statistico del processo ; Qualità
Elenco autori:
M. Lazzaroni
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Titolo del libro:
GMEE 2008 : 25. Congresso nazionale gruppo misure elettriche ed elettroniche : Monte Porzio Catone, Roma, 7-10 settembre 2008 : atti del congresso